菲希爾x熒光射線分析儀XAN250

菲希爾x熒光射線分析儀XAN250

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀概述：
菲希爾xan250高性能X射線熒光測量儀，配有非常*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀特點：
•高性能機型，具有強大的綜合測量能力
•配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
•配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
•由下的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位 
典型應用領域：
•對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
•對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
•在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
•用于高校研究和工業研發領域

無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統解決方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業,以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,*制造技術的驅動精益求精。X射線測厚儀原理
fischerscope xan250 XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。