菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡介

為了使每次測量都能在條件下進行，XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。

比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。

菲希爾X射線測厚儀XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有：

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析